普仁儀器亮相2013檢博會
為貫徹國家質(zhì)檢總局“科技興檢”戰(zhàn)略，加強關(guān)鍵技術(shù)和科技裝備的應(yīng)用，提升質(zhì)檢科技水平“2013國際檢驗檢測技術(shù)與裝備博覽

會暨全國檢驗檢測學術(shù)大會”于 2013年9月13日—15日在青島國際會展中心舉辦。“檢博會”旨在通過國內(nèi)外檢驗檢測技術(shù)與裝備

的展示與交流，加強質(zhì)檢系統(tǒng)實驗室“技創(chuàng)新、技術(shù)支撐和一線技術(shù)保障”能力建設(shè)。
    青島普仁儀器將攜PIC系列離子色譜儀及PAS系列自動進樣器亮相展會，優(yōu)質(zhì)領(lǐng)先的儀器產(chǎn)品引起各直屬檢驗檢疫局、各地質(zhì)量

技術(shù)監(jiān)督局相關(guān)人員，檢驗檢測技術(shù)專家及實驗室負責人，第三方檢驗檢測機構(gòu)的濃厚興趣，大家紛紛前來普仁展臺，咨詢洽談。

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